gebrauchte Rudolph Halbleiter in Südkorea

RUDOLPH S3000A

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

RUDOLPH S3000A

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

2005 Rudolph Metapulse 200

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: Metapulse 200

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

2008 RUDOLPH NSK 105

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph

Versand: EXW

RUDOLPH S3000

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

RUDOLPH S3000A

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW

RUDOLPH WV320

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: WV320

Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektion | Versand: EXW".

RUDOLPH S3000S

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000S

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

RUDOLPH S3000S

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000S

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

RUDOLPH S3000

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP200

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: Metapulse 200

Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

2011 RUDOLPH S3000A

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

2010 RUDOLPH WS3840

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: WS3840

Wafergröße: 12" | Prozess: 3d-Bump-Metrologie | Versand: EXW".