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gebrauchte Rudolph S3000 Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

    Südkorea
  • 2012 RUDOLPH S3000A

    2012 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 8" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Kammer: EXW

    Südkorea
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