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RUDOLPH Meta Pulse 200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Versand: EXW
Südkorea
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2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea
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2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea
2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW
Südkorea
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2012 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 8" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Kammer: EXW
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2009 RUDOLPH MP300
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP 300
Wafergröße: 8" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
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RUDOLPH Meta Pulse 300
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
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