Halbleiter » Test und Messung

Building Filters

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gebrauchte Test Und Messung

2007 KOCUSAI VR120_SD
- Hersteller: KOCUSAI
Wafergröße: 12" | Prozess: Widerstandsprüfsystem | Versand: EXW
Südkorea
1996 Nanometrics Nanospec8000
- Hersteller: Nanometrics
- Modell: Nanospec
Prozess: MET | Versand: EXW
Südkorea
2011 HMI eScan 400
- Hersteller: HMI
- Modell: Escan 400
Wafergröße: 12" | Prozess: E-Beam Defekt Inspektion | Versand: EXW
Südkorea
Chint Power Smart COMBOX - CHINT POWER
Shanghai, China
1997 KLA AIT
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: AIT
Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW
Korea
2004 KLA VIPER 2430
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: Viper 2430
Wafergröße: 12 | Versand: EXW
Gyeonggi-do, Südkorea
2004 KLA Viper 2435XP
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: Viper 2435
Wafergröße: 12 | Versand: EXW
Gyeonggi-do, Südkorea
2005 RUDOLPH MP-300
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP 300
Wafergröße: 12 | Versand: EXW
Gyeonggi-do, Südkorea
2004 KLA Viper 2435
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: Viper 2435
Wafergröße: 12 | Versand: EXW
Gyeonggi-do, Südkorea
NEXTEST MAGNUM PV SCM
- Hersteller: SCM / SCMI
Wafergröße: 8, 12" | Versand: EXW
Südkorea
A&B WOS 2000
- Hersteller: A&B
Versand: EXW
Südkorea
2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP 300
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea
2009 RUDOLPH MP300
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP 300
Wafergröße: 8 " | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea
1997 KLA AIT
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: AIT
Wafergröße: 8 " | Prozess: MET | Versand: EXW
Südkorea
LEICA INM300 Wafer Inspection
- Hersteller: Leica
Südkorea