gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter)

BALLUFF BOS-Sensor 26K-PA-1LHC-S4-C

• Hersteller: Balluff

Maßstab FAGOR COVP-1645

• Hersteller: Fagor

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 REV.2 | Versand: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 | Versand: EXW

METROLOGY P2

• Hersteller: METROLOGY

METROLOGY Q230

• Hersteller: METROLOGY

Wafergröße: 8"

HITACHI FB 2100

• Hersteller: Hitachi

KLA P20H

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P20H

Wafergröße: 3

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

AMAT SEMVision

• Hersteller: Amat
• Modell: Semvision

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

KLA-TENCOR P 12

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P-12

1996 BROOKS METARA 7200

• Hersteller: Brooks

Wafergröße: 8" | Prozess: OVERAY | Versand: EXW

2010 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8" | Versand: EXW

2006 KLA CI T1X0

• Hersteller: KLA-Tencor

Versand: EXW