gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Gyeonggi-do, Südkorea

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 REV.2 | Versand: EXW

METROLOGY P2

• Hersteller: METROLOGY

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

AMAT SEMVision

• Hersteller: Amat
• Modell: Semvision

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

KLA-TENCOR P 12

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P-12

METROLOGY Q230

• Hersteller: METROLOGY

Wafergröße: 8"

HITACHI FB 2100

• Hersteller: Hitachi

KLA P20H

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P20H

Wafergröße: 3