gebrauchte Unterstützende Ausrüstung (Halbleiter) in Südkorea

WAFER MASTERS SAO-203LP

• Hersteller: WAFER MASTERS

Wafergröße: 12" | Prozess: TSV Cu Glühen | Versand: EXW".

WONIK IPS MAHA HP

• Hersteller: WONIK IPS

Wafergröße: 12" | Sendung: tables d'appoint | Kommentare: WONIK IPS MAHA HP

OXFORD 800+ RIE

• Hersteller: OXFORD

Wafergröße: 5" | Prozess: RIE

MM FS4060

• Hersteller: MM

Wafergröße: * | Versand: EXW

2006 SIGMAMELTEC SFG3000

• Hersteller: SIGMAMELTEC

Wafergröße: 12" | Prozess: FOTOMASKE | Versand: EXW

SUNGJIN SEMITECH ULTRA SONIC

• Hersteller: SUNGJIN SEMITECH

Prozess: Waffelreiniger Auto | Wafergröße: * | Versand: EXW

MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Hersteller: Verteq
• Modell: SUPERCLEAN 1600

Prozess: WÄSCHESCHLEUDER | Wafergröße: * | Versand: EXW

1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR

• Hersteller: Nicolet
• Modell: MAGNA 410 FT-IR

Prozess: Spektrometer | Wafergröße: * | Versand: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Hersteller: CARLZEISS

Prozess: INSPEKTIONSMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Hersteller: Leica

Sierras, cortado: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Hersteller: Leica
• Modell: KENSINGTON 300901

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Hersteller: Leica
• Modell: KENSINGTON 300901

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7500E

Wafergröße: 8" | Prozess: Wafer-Inspektionssystem | Versand: Transformers

CARLZEISS AXIOTON

• Hersteller: CARLZEISS

Prozess: INSPEKTIONSMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW

EXPEDIUS

Wafergröße: 12" | Prozess: DUMMY CLN | Versand: EXW