2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: OVERLAY | Versand: EXW
Südkorea
2003 HITACHI RS 4000
- Hersteller: Hitachi
- Modell: RS-4000
Wafergröße: 12" | Prozess: Defektprüfung Sem | Versand: EXW
Südkorea
Südkorea
KLA_TENCOR PROMETRIX FT750
- Hersteller: KLA_TENCOR
Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
2003 HITACHI RS4000
- Hersteller: Hitachi
- Modell: RS-4000
Wafergröße: 12" | Prozess: Defektprüfung Sem | Versand: EXW
Südkorea
THERMO FISHER ECO 1000
- Hersteller: Thermo Fisher Scientific
- Modell: ECO 1000
Prozess: FTIR-SYSTEM | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse 200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse 200
Wafergröße: 8" | Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Versand: EXW
Südkorea
1997 LG SEMICON CLS-9002
- Hersteller: LG SEMICON
Prozess: 3. OPTISCHE INSPEKTION | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
2010 Kobelco SBW-330
- Hersteller: Kobelco
- Modell: SBW-330
Details: Waferprüfung und Metrologie | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: SBW-330 Waferprüfung und Messtechnik
Südkorea
2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea
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2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea
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