Halbleiter » Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) » Mängelprüfung » Südkorea

Suche nach Hersteller

Suche nach Provinz

Building Filters

22

gebrauchte Mängelprüfung in Südkorea

  • 2009 HITACHI RS4000T

    2009 HITACHI RS4000T

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: RS-4000

    Wafergröße: 12" | Versand: EXW

    Seoul, Südkorea
  • Hitachi, S-3000H, SEM (Rasterelektronenmikroskop)

    Hitachi, S-3000H, SEM (Rasterelektronenmikroskop)

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: S-3000H

    Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: SEM (Rasterelektronenmikroskop) | Ausrüstung: SEM (Rasterelektronenmikroskop)

    Suwon, Südkorea
  • 2011 HITACHI NB-5000

    2011 HITACHI NB-5000

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: NB5000

    Wafergröße: N/A | Prozess: FIB Sem | Versand: EXW

    Südkorea
  • HITACHI S5500

    HITACHI S5500

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: S-5500

    Wafergröße: N/A | Prozess: FE Sem | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2006 HITACHI HD2300A

    2006 HITACHI HD2300A

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: HD-2300A

    Wafergröße: N/A | Prozess: Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) | Versand: EXW

    Südkorea
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: S-5000

    Gyeonggi-do, Südkorea
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: S-5000

    Gyeonggi-do, Südkorea
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: S-5000

    Gyeonggi-do, Südkorea
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: S-5000

    Gyeonggi-do, Südkorea
  • HITACHI FB 2100

    HITACHI FB 2100

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: FB-2100

    Gyeonggi-do, Südkorea
  • HITACHI S 5000

    HITACHI S 5000

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: S-5000

    Gyeonggi-do, Südkorea
  • 2010 HITACHI LS9000

    2010 HITACHI LS9000

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: LS9000

    Versand: EXW

    Südkorea
  • 2003 HITACHI RS4000

    2003 HITACHI RS4000

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: RS-4000

    Wafergröße: 12" | Prozess: FEHLERÜBERPRÜFUNG SEM | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2013 HITACHI RS6000

    2013 HITACHI RS6000

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: RS-6000

    Versand: EXW

    Südkorea
  • 2010 HITACHI IS3200SE

    2010 HITACHI IS3200SE

    • Hersteller: Hitachi
    • Modell: IS-3200SE

    Wafergröße: 12" | Versand: EXW

    Südkorea
12

Übersicht

Die Defektinspektion in der Halbleiter-Metrologie umfasst Systeme und Prozesse zur Erkennung, Klassifizierung und Quantifizierung von Defekten auf Wafern, Masken und Bauteilen. Optische, Elektronenstrahl- oder Streulicht-basierte Werkzeuge messen Defektgröße, -dichte und -position zur Verbesserung der Ausbeute und Ursachenanalyse. Die Geräte müssen Reinraum-, Vibrations- und ESD-Anforderungen erfüllen und integrieren oft Bildverarbeitung, Klassifizierungssoftware und Datenanalyse für die Produktionsüberwachung.

FAQ (HÄUFIG GESTELLTE FRAGEN)

Worauf sollte ich beim Kauf eines gebrauchten Defektinspektionssystems achten?

Prüfen Sie Zustand von Detektoren und Optik, Auflösungs- und Empfindlichkeitsspezifikationen, kompatible Wafergrößen, Software- und Firmwarestände, Wartungs- und Kalibrierhistorie sowie Verfügbarkeit von Ersatzteilen und Serviceverträgen.

Wie sollte ein Defektinspektionsgerät verschickt werden, um es zu schützen?

Verwenden Sie klimatisierten, vibrationsgedämpften Transport mit kundenspezifischer Verpackung, ESD-Schutz und Stoßaufzeichnern. Koordinieren Sie Demontage/Wiederaufbau mit dem Lieferanten oder zertifizierten Technikern und versichern Sie die Sendung.

Welche Wartungs- und Kalibrierintervalle sind notwendig?

Tägliche Überprüfung von Optik und Sauberkeit, Überwachung von Vakuum oder Pumpen falls vorhanden, regelmäßige Software-Backups. Jährliche Kalibrierung durch OEM oder akkreditiertes Labor, Verbrauchsmaterialien laut Hersteller austauschen und Serviceaufzeichnungen führen.