gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter)

2000 KLA UV-1080

• Hersteller: KLA-Tencor

Wafergröße: 6", 8" | Prozess: MET | Versand: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• Hersteller: Hitachi
• Modell: HD-2300A

Wafergröße: N/A | Prozess: Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) | Versand: EXW

HEIDENHAIN Maßstab LIDA 325 ML 1200

• Hersteller: Heidenhain

BALLUFF BOS-Sensor 26K-PA-1LHC-S4-C

• Hersteller: Balluff

Maßstab FAGOR COVP-1645

• Hersteller: Fagor

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 | Versand: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 REV.2 | Versand: EXW

METROLOGY P2

• Hersteller: METROLOGY

AMAT SEMVision

• Hersteller: Amat
• Modell: Semvision

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

KLA-TENCOR P 12

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P-12

METROLOGY Q230

• Hersteller: METROLOGY

Wafergröße: 8 "

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000