2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
Südkorea- Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea2012 RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 8 " | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Kammer: EXW
SüdkoreaKLA_TENCOR P-12
gebraucht
- Hersteller: KLA_TENCOR
Wafergröße: 6",8" | Prozess: DISK PROFILER | Versand: EXW
SüdkoreaSEMITOOL WST305M
gebraucht
- Hersteller: Semitool
- Modell: WST305M
Prozess: Cu PLTNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaLEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
gebraucht
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaHP 4145B
gebraucht
- Hersteller: HP
- Modell: 4145B
Prozess: HALBLEITERPARAMETER | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaLEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
gebraucht
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaLEICA AG KENSINGTON 300901
gebraucht
- Hersteller: Leica
- Modell: KENSINGTON 300901
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaLEICA AG KENSINGTON 300901
gebraucht
- Hersteller: Leica
- Modell: KENSINGTON 300901
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaWAFER MASTERS SAO-203LP
gebraucht
- Hersteller: WAFER MASTERS
Wafergröße: 12" | Prozess: TSV Cu Glühen | Versand: EXW".
SüdkoreaWONIK IPS MAHA HP
gebraucht
- Hersteller: WONIK IPS
Wafergröße: 12" | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: WONIK IPS MAHA HP
Südkorea- Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse 300
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
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