Anseong, Südkorea
Cheonan-si, Südkorea
1991 KLA SFS7200
- Hersteller: KLA-Tencor
- Modell: SFS7200
Wafergröße: 8" | Prozess: Metrologie | Versand: EXW
Südkorea
Südkorea
Südkorea
Südkorea
Südkorea
Südkorea
Südkorea
2011 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea
2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea
FEI FEM2010F
- Hersteller: FEI
- Modell: FEM2010F
Details: Dual beam | Sendung: Packing and shipping is buyer's responsibility | Kommentare: FEI FEM2010F Doppelstrahl
Südkorea
2005 RUDOLPH MP200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP200
Südkorea
2003 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- Hersteller: Nanometrics
- Modell: CALIPERMOSAIC
Wafergröße: 12" | Prozess: Überlagerung | Versand: EXW".
Südkorea
2013 RODOLPH Meta Pulse 300
- Hersteller: RODOLPH
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW".
Südkorea

