gebrauchte Halbleiter in Südkorea

RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

ONTO WV320

• Hersteller: Onto

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2007 DNS SS-3000-AR

• Hersteller: Dainippon Screen
• Modell: SS-3000

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

Nanometrics Caliper_MOSAIC

• Hersteller: Nanometrics
• Modell: CALIPERMOSAIC

Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: Nanometrischer Messschieber_MOSAIC

JEOL JWS-7515

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7515

Details: Wafer-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: JEOL JWS-7515 Waferprüfung

2000 RUDOLPH MP200

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP200

2006 HITACHI IS2700E

• Hersteller: Hitachi
• Modell: IS2700SE

Wafergröße: 12" | Details: E-Strahl-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: HITACHI IS2700SE E-Strahlprüfung

2010 RUDOLPH WS3840

• Hersteller: Rudolph
• Modell: WS3840

Wafergröße: 12" | Prozess: 3d-Bump-Metrologie | Versand: EXW".

DNS SU-3000

• Hersteller: Dainippon Screen
• Modell: SU-3000

Wafergröße: 12" | Prozess: Reiniger | Typ: MP | Versand: EXW".

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• Hersteller: RODOLPH

Wafergröße: 8 | 3 waffelgröße: 8 " | Versand: EXW

HITACHI S4700-II

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S 4700

Wafergröße: 12" | Prozess: FESEM mit Horriba EMAX EDX | Versand: EXW

PUDOLPH Meta Pluse3

• Hersteller: PUDOLPH

Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Prozess: OVERLAY | Versand: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS 4000

Wafergröße: 12" | Prozess: Defektprüfung Sem | Versand: EXW

2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW