Halbleiter » Südkorea

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gebrauchte Halbleiter in Südkorea

1996 KLA TENCOR P-2
- Hersteller: KLA-Tencor
Wafergröße: 6",8" | Lieferung: EXW
Südkorea
2001 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- Hersteller: Nanometrics
- Modell: CALIPERMOSAIC
Wafergröße: 12" | Prozess: Überlagerung | Versand: EXW".
Südkorea
2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC
- Hersteller: Nanometrics
- Modell: CALIPERMOSAIC
Wafergröße: 12" | Prozess: Überlagerung | Versand: EXW".
Südkorea
2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW
Südkorea
1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR
- Hersteller: Nicolet
- Modell: MAGNA 560 FT-IR
Versand: EXW
Südkorea
2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
- Hersteller: Valley
- Modell: JVX6200I
Wafergröße: 12" | Prozess: Röntgenmetrologie (Röntgenreflexion) | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH WV320 MACRO
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 8" | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea
2012 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 8" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Kammer: EXW
Südkorea
KLA_TENCOR P-12
- Hersteller: KLA_TENCOR
Wafergröße: 6",8" | Prozess: DISK PROFILER | Versand: EXW
Südkorea
SEMITOOL WST305M
- Hersteller: Semitool
- Modell: WST305M
Prozess: Cu PLTNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
HP 4145B
- Hersteller: HP
- Modell: 4145B
Prozess: HALBLEITERPARAMETER | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Hersteller: Leica
- Modell: KENSINGTON 300901
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea