HITACHI S4700-II
gebraucht
- Hersteller: Hitachi
- Modell: S 4700
Wafergröße: 12" | Prozess: FESEM mit Horriba EMAX EDX | Versand: EXW
SüdkoreaPUDOLPH Meta Pluse3
gebraucht
- Hersteller: PUDOLPH
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: OVERLAY | Versand: EXW
Südkorea2003 HITACHI RS 4000
gebraucht
- Hersteller: Hitachi
- Modell: RS 4000
Wafergröße: 12" | Prozess: Defektprüfung Sem | Versand: EXW
Südkorea2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA
gebraucht
- Hersteller: Nanometrics
Wafergröße: 12" | Prozess: Maske & Wafer-Inspektion | Versand: EXW
Südkorea2003 RUDOLPH Meta Pulse 300
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke
Südkorea1999 NEC NEC SL-473F
gebraucht
- Hersteller: NEC
- Modell: SL-473F
Prozess: SI-WAFER-MARKER | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaKLA_TENCOR PROMETRIX FT750
gebraucht
- Hersteller: KLA_TENCOR
Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaE-TECH SOLUTION INSPECTION SCOPE
gebraucht
- Hersteller: Kannegiesser-Etech
Prozess: INSPEKTIONSUMFANG | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea- Südkorea
1998 NICOLET MAGNA 560 FT-IR
gebraucht
- Hersteller: Nicolet
- Modell: MAGNA 560 FT-IR
Prozess: Spektrometer | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaLEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
gebraucht
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea- Südkorea
- Südkorea
GENUS Stratagem300
gebraucht
- Hersteller: GENUS
Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: GENUS Stratagem300
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