gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

KLA TENCOR, P-10, Oberflächenprofilometer (Windows DOS)

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P-10

Seriennummer.: 03970318 | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: Oberflächenprofilometer (Windows DOS) | Ausrüstung: Oberflächenprofilometer | Beschreibung: Windows DOS

Hitachi, S-3000H, SEM (Rasterelektronenmikroskop)

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-3000H

Seriennummer.: N/A | Menge: 1 | Ausstattungsdetail: SEM (Rasterelektronenmikroskop) | Ausrüstung: SEM (Rasterelektronenmikroskop)

2000 KLA 2139

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: 2139

Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW

LASER&PHYSICS SISCAN-2-M7325

• Hersteller: LASER&PHYSICS

Prozess: Maske Test Maschine | Wafergröße: N/A | Versand: EXW

2002 MDC SIGNATION

• Hersteller: MDC

Wafergröße: 8" | Prozess: MET | Versand: EXW

2000 KLA UV-1080

• Hersteller: KLA-Tencor

Wafergröße: 6", 8" | Prozess: subcategory | Versand: EXW

2006 HITACHI HD2300A

• Hersteller: Hitachi
• Modell: HD-2300A

Wafergröße: N/A | Prozess: Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) | Versand: EXW

2011 HITACHI NB-5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: NB5000

Wafergröße: N/A | Prozess: FIB Sem | Versand: EXW

HITACHI S5500

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5500

Wafergröße: N/A | Prozess: FE Sem | Versand: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 | Versand: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 REV.2 | Versand: EXW

AMAT SEMVision

• Hersteller: Amat
• Modell: Semvision

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

KLA-TENCOR P 12

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P-12