gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

METROLOGY P2

• Hersteller: METROLOGY

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

METROLOGY Q230

• Hersteller: METROLOGY

Wafergröße: 8"

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI S 5000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-5000

HITACHI FB 2100

• Hersteller: Hitachi
• Modell: FB-2100

KLA P20H

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P20H

Wafergröße: 3

1996 BROOKS METARA 7200

• Hersteller: Brooks

Wafergröße: 8" | Prozess: OVERAY | Versand: EXW

RUDOLPH WV320

• Hersteller: Rudolph
• Modell: WV320

Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektion | Versand: EXW".

1991 KLA SFS7200

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: SFS7200

Wafergröße: 8" | Prozess: Metrologie | Versand: EXW

2005 VISTEC LWM9000

• Hersteller: Vistec

Wafergröße: 6" | Versand: EXW

2010 HITACHI LS9000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: LS9000

Versand: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8" | Versand: EXW

2003 HITACHI RS4000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS-4000

Wafergröße: 12" | Prozess: FEHLERÜBERPRÜFUNG SEM | Versand: EXW