2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
- Hersteller: Valley
- Modell: JVX6200I
Wafergröße: 12" | Prozess: Röntgenmetrologie (Röntgenreflexion) | Versand: EXW
Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse
- Hersteller: Rudolph
- Modell: Metapulse
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea
2012 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 8 " | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Kammer: EXW
Südkorea
Südkorea
RUDOLPH Meta Pulse 300
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea
Südkorea
Südkorea
2008 LASERTEC BGM 300
- Hersteller: Lasertec
Wafergröße: 8 " | Prozess: SYSTEM ZUR ANALYSE UND VISUALISIERUNG DER WAFEROBERFLÄCHE | Versand: EXW
Südkorea
Südkorea
2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)
- Hersteller: J.A.WOOLLAM
Wafergröße: 8 " | Prozess: ELLIPSOMETER | Versand: EXW
Südkorea
Südkorea
Südkorea
Südkorea
2011 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea
2010 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea
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