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Lumentum - Surplus Semiconductor Fabrication Tools and Optical Communication Testers from Takao Japan Facility

von AllSurplus

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Endet Sep 30., 0:00 CDT
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gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

  • NGR NGR2150

    NGR NGR2150

    • Hersteller: NGR

    Wafergröße: 12" | Details: CD SEM | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: NGR2150 CD SEM

    Südkorea
  • JEOL JWS-7515

    JEOL JWS-7515

    • Hersteller: Jeol
    • Modell: JWS-7515

    Details: Wafer-Insektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: JEOL JWS-7515 Waferprüfung

    Südkorea
  • 1996 KLA TENCOR P-2

    1996 KLA TENCOR P-2

    • Hersteller: KLA-Tencor

    Wafergröße: 6",8" | Lieferung: EXW

    Südkorea
  • 2001 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    2001 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    • Hersteller: Nanometrics
    • Modell: CALIPERMOSAIC

    Wafergröße: 12" | Prozess: Überlagerung | Versand: EXW".

    Südkorea
  • 2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    2010 NANOMETRICS CALIPER_MOSAIC

    • Hersteller: Nanometrics
    • Modell: CALIPERMOSAIC

    Wafergröße: 12" | Prozess: Überlagerung | Versand: EXW".

    Südkorea
  • 2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    • Hersteller: Valley
    • Modell: JVX6200I

    Wafergröße: 12" | Prozess: Röntgenmetrologie (Röntgenreflexion) | Versand: EXW

    Südkorea
  • RUDOLPH Meta Pulse

    RUDOLPH Meta Pulse

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: Metapulse

    Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2012 RUDOLPH S3000A

    2012 RUDOLPH S3000A

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: S3000A

    Wafergröße: 8 " | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Kammer: EXW

    Südkorea
  • KLA_TENCOR P-12

    KLA_TENCOR P-12

    • Hersteller: KLA_TENCOR

    Wafergröße: 6",8" | Prozess: DISK PROFILER | Versand: EXW

    Südkorea
  • RUDOLPH Meta Pulse 300

    RUDOLPH Meta Pulse 300

    • Hersteller: Rudolph

    Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2010 BRUKER JVX6200

    2010 BRUKER JVX6200

    • Hersteller: Bruker

    Prozess: Metro | Versand: EXW

    Südkorea
  • RUDOLPH FE-4D

    RUDOLPH FE-4D

    • Hersteller: Rudolph

    Wafergröße: 8 " | Prozess: Fokus-Ellipsometer | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2008 LASERTEC BGM 300

    2008 LASERTEC BGM 300

    • Hersteller: Lasertec

    Wafergröße: 8 " | Prozess: SYSTEM ZUR ANALYSE UND VISUALISIERUNG DER WAFEROBERFLÄCHE | Versand: EXW

    Südkorea
  • 2003 RUDOLPH MP200

    2003 RUDOLPH MP200

    • Hersteller: Rudolph
    • Modell: MP200

    Wafergröße: 8

    Südkorea
  • 2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

    2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

    • Hersteller: J.A.WOOLLAM

    Wafergröße: 8 " | Prozess: ELLIPSOMETER | Versand: EXW

    Südkorea
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