gebrauchte Halbleiter in Südkorea

MARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Hersteller: Verteq
• Modell: SUPERCLEAN 1600

Prozess: WÄSCHESCHLEUDER | Wafergröße: * | Versand: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Hersteller: CARLZEISS

Prozess: INSPEKTIONSMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901

• Hersteller: Leica

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Hersteller: Leica
• Modell: KENSINGTON 300901

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Hersteller: Leica
• Modell: KENSINGTON 300901

Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7500E

Wafergröße: 8" | Prozess: Wafer-Inspektionssystem | Versand: EXW

1996 HITACHI S-4160

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-4160

Wafergröße: 6",8" | Prozess: FE SEM | Versand: EXW

JEOL JWS-7500E

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7500E

Wafergröße: 8" | Prozess: WAFER-PRÜFSYSTEM | Versand: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Hersteller: CARLZEISS

Prozess: INSPEKTIONSMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW

JORDANVALLEY JVX6200

• Hersteller: JORDANVALLEY

Wafergröße: 12"

EXPEDIUS

Wafergröße: 12" | Prozess: DUMMY CLN | Versand: EXW

LINDA IN5-HI

• Hersteller: LINDA

Wafergröße: * | Versand: EXW

NIDEC IM 15

• Hersteller: Nidec-Shimpo

Prozess: Wafer-Inspektion | Wafergröße: * | Versand: EXW

RUDOLPH FE-3

• Hersteller: Rudolph
• Modell: FE-3

Wafergröße: 8" | Prozess: Fokus-Ellipsometer | Versand: EXW

LUMONICS SUPERCLEAN

• Hersteller: LUMONICS

Wafergröße: 8" | Prozess: Lasermarkierungssystem | Versand: EXW".