gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• gebraucht

• Hersteller: Nanometrics

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

HSEB AXIOSPECT 300

• gebraucht

• Hersteller: HSEB
• Modell: AXIOSPECT 300

Versand: EXW

METROLOGY Q230

• gebraucht

• Hersteller: METROLOGY

Wafergröße: 8 "

HITACHI FB 2100

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi

KLA P20H

• gebraucht

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P20H

Wafergröße: 3

1996 BROOKS METARA 7200

• gebraucht

• Hersteller: Brooks

Wafergröße: 8 " | Prozess: OVERAY | Versand: EXW

RUDOLPH WV320

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph
• Modell: WV320

Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektion | Versand: EXW".

1991 KLA SFS7200

• gebraucht

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: SFS7200

Wafergröße: 8 " | Prozess: Metrologie | Versand: EXW

2005 VISTEC LWM9000

• gebraucht

• Hersteller: Vistec

Wafergröße: 6" | Versand: EXW

2010 HITACHI LS9000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: LS9000

Versand: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• gebraucht

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8 " | Versand: EXW

2003 HITACHI RS4000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS 4000

Wafergröße: 12" | Prozess: FEHLERÜBERPRÜFUNG SEM | Versand: EXW

1990 KLA SFS7200

• gebraucht

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: SFS7200

Wafergröße: 8 " | Prozess: Metrologie | Versand: EXW

2013 HITACHI RS6000

• gebraucht

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS 6000

Versand: EXW

1991 NIKON 3

• gebraucht

• Hersteller: Nikon

Wafergröße: 5" | Prozess: OPTI STATION