gebrauchte Halbleiter in Südkorea

2003 RUDOLPH MP200

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP200

Wafergröße: 8

1997 LG SEMICON CLS-9002

• Hersteller: LG SEMICON

Prozess: 3. OPTISCHE INSPEKTION | Wafergröße: * | Versand: EXW

2001 J.A.WOOLLAM VUV-VASE VU302(GENI)

• Hersteller: J.A.WOOLLAM

Wafergröße: 8" | Prozess: ELLIPSOMETER | Versand: EXW

OLYMPUS MX80

• Hersteller: Olympus
• Modell: MX80

Wafergröße: 8", 12" | Prozess: Umfang | Versand: EXW

KLA TENCOR P-15

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P-15

1990 KLA SFS7200

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: SFS7200

Wafergröße: 8" | Prozess: Metrologie | Versand: EXW

2006 Micro-Vu Vertex 420

• Hersteller: Micro-Vu

Wafergröße: N/A | Versand: EXW

HSEB AXIOTRON 300

• Hersteller: HSEB

Versand: EXW

Hitachi S4700II

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S-4700

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

2011 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW

RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

ONTO WV320

• Hersteller: Onto

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

Nanometrics Caliper_MOSAIC

• Hersteller: Nanometrics
• Modell: CALIPERMOSAIC

Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: Nanometrischer Messschieber_MOSAIC