2001 HITACHI S4700-I
gebraucht
- Hersteller: Hitachi
- Modell: S 4700
Wafergröße: 12" | Prozess: Rasterelektronenmikroskop | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH Meta Pulse 3
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW
Südkorea- Südkorea
RUDOLPH S3000A
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH Meta Pulse 300
gebraucht
- Hersteller: Rudolph
Wafergröße: 12" | Prozess: METALL-THK-MESSUNG | Versand: EXW
SüdkoreaKLA_TENCOR PROMETRIX FT750
gebraucht
- Hersteller: KLA_TENCOR
Prozess: SCHICHTDICKENMESSUNG | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaSUNGJIN SEMITECH ULTRA SONIC
gebraucht
- Hersteller: SUNGJIN SEMITECH
Prozess: Waffelreiniger Auto | Wafergröße: * | Versand: EXW
Südkorea1996 NICOLET MAGNA 410 FT-IR
gebraucht
- Hersteller: Nicolet
- Modell: MAGNA 410 FT-IR
Prozess: Spektrometer | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaMARTEQ VERTEQ SUPERCLEAN 1600
gebraucht
- Hersteller: Verteq
- Modell: SUPERCLEAN 1600
Prozess: WÄSCHESCHLEUDER | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaCARLZEISS AXIOTON
gebraucht
- Hersteller: CARLZEISS
Prozess: INSPEKTIONSMIKROSKOP | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaLEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
gebraucht
- Hersteller: Leica
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaLEICA AG KENSINGTON 300901
gebraucht
- Hersteller: Leica
- Modell: KENSINGTON 300901
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaLEICA AG KENSINGTON 300901
gebraucht
- Hersteller: Leica
- Modell: KENSINGTON 300901
Prozess: Wafer-Inspektionsmikroskop | Wafergröße: * | Versand: EXW
SüdkoreaAPPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E
gebraucht
- Hersteller: Jeol
- Modell: JWS-7500E
Wafergröße: 8 " | Prozess: Wafer-Inspektionssystem | Versand: EXW
SüdkoreaJEOL JWS-7500E
gebraucht
- Hersteller: Jeol
- Modell: JWS-7500E
Wafergröße: 8 " | Prozess: WAFER-PRÜFSYSTEM | Versand: EXW
Südkorea