gebrauchte Messtechnik / Inspektion (Halbleiter) in Südkorea

2010 HITACHI LS9000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: LS9000

Versand: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8 " | Versand: EXW

2003 HITACHI RS4000

• Hersteller: Hitachi
• Modell: RS 4000

Wafergröße: 12" | Prozess: FEHLERÜBERPRÜFUNG SEM | Versand: EXW

HSEB AXIOTRON 300

• Hersteller: HSEB

Versand: EXW

2010 HITACHI IS3200SE

• Hersteller: Hitachi
• Modell: IS3200SE

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

JORDANVALLEY JVX6200

• Hersteller: JORDANVALLEY

Wafergröße: 12"

JEOL JWS-7515

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7515

Details: Wafer-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: JEOL JWS-7515 Waferprüfung

2006 HITACHI IS2700E

• Hersteller: Hitachi
• Modell: IS2700SE

Wafergröße: 12" | Details: E-Strahl-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: HITACHI IS2700SE E-Strahlprüfung

1997 LG SEMICON CLS-9002

• Hersteller: LG SEMICON

Prozess: 3. OPTISCHE INSPEKTION | Wafergröße: * | Versand: EXW

2010 Kobelco SBW-330

• Hersteller: Kobelco
• Modell: SBW-330

Details: Waferprüfung und Metrologie | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: SBW-330 Waferprüfung und Messtechnik

KLA TENCOR P-15

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P-15

2006 Micro-Vu Vertex 420

• Hersteller: Micro-Vu

Wafergröße: N/A | Versand: EXW

Hitachi S4700II

• Hersteller: Hitachi
• Modell: S 4700

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

2011 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl