gebrauchte Rudolph Halbleiter

2010 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

2010 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8" | Versand: EXW

RUDOLPH Meta Pulse

• Hersteller: Rudolph
• Modell: Metapulse

Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

2012 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 8" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Kammer: EXW

RUDOLPH FE-4D

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8" | Prozess: Fokus-Ellipsometer | Versand: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

2011 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

2010 RUDOLPH WS3840

• Hersteller: Rudolph
• Modell: WS3840

Wafergröße: 12" | Prozess: 3d-Bump-Metrologie | Versand: EXW".

2005 RUDOLPH MP200

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP200

2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP 300

Wafergröße: 12" | Prozess: Messung der Filmdicke | Versand: EXW

2011 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

2010 RUDOLPH S3000A

• Hersteller: Rudolph
• Modell: S3000A

Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl

RUDOLPH WV320 MACRO

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8" | Versand: EXW

RUDOLPH FE-3

• Hersteller: Rudolph

Wafergröße: 8" | Prozess: Fokus-Ellipsometer | Versand: EXW