gebrauchte Halbleiter in Südkorea

1998 ESPEC PHH-301

• Hersteller: Espec
• Modell: PHH-301

Auslassgröße: 1500*1210*1065 mm | Einlassgröße: 800*800*800 mm | Tempobereich: 20~300 ℃ | Stromspannung: 200V/3PH/50-60HZ | Standort: Etechsolution Lagerhaus M

VERTEQ SUPERCLEAN 1600

• Hersteller: Verteq
• Modell: SUPERCLEAN 1600

KLA_TENCOR CI T1X0

• Hersteller: KLA_TENCOR

Prozess: CI T1X0 | Versand: EXW

AMAT SEMVision

• Hersteller: Amat
• Modell: Semvision

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

2005 AXCELIS ES3

• Hersteller: Axcelis
• Modell: ES3

Wafergröße: 12"

MPD MSP-2300XPI

• Hersteller: MPD

Wafergröße: 12" | Details: Wafer-Abscheidung | Sendung: EXW

1992 DISCO DFG-82IF

• Hersteller: Disco
• Modell: DFG-82IF8

Prozess: Rotierende Flachschleifmaschine

1996 BROOKS METARA 7200

• Hersteller: Brooks

Wafergröße: 8" | Prozess: OVERAY | Versand: EXW

KLA TENCOR P-15

• Hersteller: KLA-Tencor
• Modell: P-15

ONTO WV320

• Hersteller: Onto

Wafergröße: 12" | Versand: EXW

Nanometrics Caliper_MOSAIC

• Hersteller: Nanometrics
• Modell: CALIPERMOSAIC

Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: Nanometrischer Messschieber_MOSAIC

JEOL JWS-7515

• Hersteller: Jeol
• Modell: JWS-7515

Details: Wafer-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: JEOL JWS-7515 Waferprüfung

2000 RUDOLPH MP200

• Hersteller: Rudolph
• Modell: MP200

2006 HITACHI IS2700E

• Hersteller: Hitachi
• Modell: IS-2700SE

Wafergröße: 12" | Details: E-Strahl-Inspektion | Sendung: Verpackung und Versand liegen in der Verantwortung des Käufers | Kommentare: HITACHI IS2700SE E-Strahlprüfung

2010 RUDOLPH WS3840

• Hersteller: Rudolph
• Modell: WS3840

Wafergröße: 12" | Prozess: 3d-Bump-Metrologie | Versand: EXW".