RUDOLPH TECHNOLOGIES CV-9812 700275 F INSPECTION SYSTEM CONTROL (BR4B.4B21)
- Hersteller: Rudolph
Art der ausrüstung/komponente: STEUERUNG DES PRÜFSYSTEMS | Mpn: CV-9812 | Land/region der herstellung: Vereinigte Staaten
$1,057 USDRathdowney, IrlandRUDOLPH TECHNOLOGIES CV-9812 700275 F INSPECTION SYSTEM CONTROL (BR4B.4B21)
- Hersteller: Rudolph
Land/region der herstellung: Vereinigte Staaten | Art der ausrüstung/komponente: STEUERUNG DES PRÜFSYSTEMS | Mpn: CV-9812
$1,162 USDRathdowney, IrlandRUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea- Südkorea
- Südkorea
RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12" | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl | Versand: EXW
SüdkoreaRUDOLPH WV320
- Hersteller: Rudolph
- Modell: WV320
Wafergröße: 12" | Prozess: Makro-Inspektion | Versand: EXW".
Südkorea- Südkorea
- Südkorea
- Südkorea
2000 RUDOLPH MP200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP200
Südkorea2011 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea2011 RUDOLPH S3000A
- Hersteller: Rudolph
- Modell: S3000A
Wafergröße: 12 | Versand: EXW | Prozess: Laser-Ellipsometrie mit fokussiertem Strahl
Südkorea2010 RUDOLPH WS3840
- Hersteller: Rudolph
- Modell: WS3840
Wafergröße: 12" | Prozess: 3d-Bump-Metrologie | Versand: EXW".
Südkorea2005 RUDOLPH MP200
- Hersteller: Rudolph
- Modell: MP200
Südkorea